NVIDIA AI：半导体生产力狂飙9.9%！模型构建时间减半！

文章介绍了基于英伟达Metropolis视觉语言模型（VLMs）和视觉基础模型（VFMs）的生成式AI在半导体缺陷自动分类中的应用。传统CNN方法面临数据需求高、语义理解有限和频繁再训练等挑战。VLMs和VFMs通过少样本学习、可解释性、自动化数据标注和时间序列分析等优势，提升缺陷分类准确率，减少人工干预，赋能智能工厂建设。